云顶娱乐app

云顶娱乐app:
×

在线咨询

QQ咨询

获取报价

证书查询

顶部

半导体器件二次筛选方案

文章来源 : 云顶娱乐app 发表时间:2022-08-17 浏览数量:

元器件二次筛选实验室


半导体器件可以划分为分立器件集成电路两大类。分立器件包括各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、光电器件及特种器件; 集成电路包括双极型电路、 MOS电路、厚膜电路、薄膜电路等器件。


各种器件的失效模式和失效机理都有差异。不同的失效机理应采用不同的筛选项目:

- 查找焊接不良,安装不牢等缺陷,可采用振动加速度; 

- 查找元器件键合不牢,装片不良,内引线配置不合适等缺陷,采用离心加速度; 

- 查找间歇短路、间歇开路等缺陷,采用机械冲击等。


因此,不同器件的筛选程序不一定相同。如晶体管的主要失效模式有短路、开路、间歇工作、参数退化和机械缺陷等五种,每种失效模式又涉及到多种失效机理,这些都是制定合理的筛选程序的重要依据。


半导体器件二次筛选项目

a) 外观检查:用10倍放大镜检查外形、引线及材料有无缺陷。

b) 温度循环:使元器件交替暴露在规定的极限高温和极限低温下,连续承受规定条件和规定次数的循环,由冷到热或由热到冷的总转移时问不超过1min,保持时间不小于10min。

c) 高温寿命(非工作:按照国家标准规定的寿命试验要求,使元器件在规定的环境条件下(通常是最高温度)存储规定的时间。

d) 电功率老炼:按降额条件达到最高结温下的老炼目的,老炼功率按元器件各自规定的条件选取。

e) 密封性试验:有空腔的元器件,先细检漏,后粗检漏。

f) 电参数测试(包括耐压或漏电流等测试):按产品技术规范合同规定进行。

g) 功能测试:按产品技术规范合同规定进行。

基于以上原理,优化了元器件测试筛选先后次序,按照失效模式的分类,对检测筛选手段依据元器件测试筛选先后次序的原则进行排序。


元器件筛选方案的制订要掌握以下原则:

1. 筛选要能有效地剔除早期失效的产品,但不应使正常产品提高失效率。

2. 为提高筛选效率,可进行强应力筛。挥κ共凡碌氖J。

3. 合理选择能暴露失效的最佳应力顺序。

4. 对被筛选对象可能的失效模式应有所掌握。

5. 为制订合理有效的筛选方案,必须了解各有关元器件的特性、材料、封装及制造技术。

此外,在遵循以上五条原则的同时,应结合生产周期,合理制定筛选时间。


云顶娱乐app检测认证专注电子元器件检测十五年,具备半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件及外壳等元器件的筛选老化能力。可开展电子元器件二次筛选、元器件破坏性物理分析(DPA)、元器件失效分析(FA)、元器件安规认证等元器件检测认证服务。


微信咨询检测认证业务

立即咨询 获取报价
×

获取报价

*公司名称

*您的姓名

*您的手机

*您的需求

为了您的权益,您的信息将被严格保密

在线留言

如果您对我司的产品或服务有任何意见或者建议,您可以通过这个渠道给予我们反馈。您的留言我们会尽快回复!

姓名:
电话:
公司:
内容:
验证码:
刷新
云顶娱乐app-4118ccm云顶集团